講演会
日 時 | 2023年6月23日(金)13:00~17:10 |
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会 場 | 大阪電気通信大学 寝屋川キャンパス A号館コンベンションホール |
主 催 | 日本結晶成長学会 |
共 催 | 大阪電気通信大学エレクトロニクス基礎研究所 |
あらゆる結晶材料において、構成元素の原子配置、不純物元素・点欠陥・その他結晶欠陥の 分布や性質、および、電子・電気・光学的特性を明らかにすることは、結晶成長技術の発展だ けでなく結晶成長メカニズムの基礎的理解においても極めて重要です。
本講演会では、結晶評価研究の第一線でご活躍されている先生方を講師としてお招きし、様 々な手法を用いた最先端の結晶評価技術の開発例や結晶評価研究例を紹介していただきます。
各手法により、どのような情報が得られるのか、また、それらが結晶成長研究にどのように活用 できるのかを考え議論する場となれば幸いです。
13:00 主催者挨拶 |
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13:05-13:50 蛍光X線・中性子ホログラフィーによる単結晶中の特異欠陥構造の評価 |
林 好一 先生(名工大) |
13:50-14:35 高分解能走査透過電子顕微鏡STEM法および分光法による原子レベルでの結晶構造解析と組成・化学状態分析 |
渡辺 万三志 先生(Lehigh大) |
14:35-14:50 休憩 |
14:50-15:35 陽電子を用いたワイドギャップ半導体結晶中の点欠陥評価(仮) |
上殿 明良 先生(筑波大) |
15:35-16:20 テラヘルツ波を用いた半導体結晶の電気的特性評価 (仮) |
中嶋 誠 先生(大阪大) |
16:20-17:05 第一原理計算やマテリアルズ・インフォマティクスを活用した材料研究 |
森分 博紀 先生(JFCC) |
17:05 閉会挨拶 |
【参加費】 日本結晶成長学会正会員 5,000円、一般(非会員) 6,000円 日本結晶成長学会学生会員 2,000円、学生(非会員) 3,000円 |
【詳細、申し込み】 日本結晶成長学会HPをご覧ください |
【問い合わせ】 日本結晶成長学会事務局 増田和歌子(tel 070-5047-3339, E-mail jimukyoku@jacg.jp) |